כנס הבדיקות הגדול של פורום בודקי התוכנה הישראלי - SIGIST

מתחיל ב: 21.07.2013 10:00 עד 25.07.2013 17:00 שמור ליומן

נכתב על ידי מערכת ביז-טק

קטגוריות: אל כל הכנסים לפי תאריך , טכנולוגיה / אינטרנט

דרוג:

תקציר

תקציר תוכנית הכנס

השנה הכנס מורכב משני חלקים: ימי סמינרים בתאריכים 21-23 יולי, וימי מושבים בתאריכים 24-25 יולי. בכנס תוכנית מעניינת, ותכנים "חמים" מעולם הבדיקות והבטחת האיכות, כולל מרצים בינלאומיים, כמיטב המסורת של SIGiST Israel בה הרצו: Lee Copeland מארה"ב, Rick Craig ארה"ב, Lloyd Roden אנגליה, Mieke Gevers בלגיה, Julian Harty אנגליה, James Bach ארה"ב, Hans Schaefer נורבגיה, Andy Redwood אנגליה, Vipul Kocher הודו Anne Mette דנמרק, David Evans אנגליה ועוד רבים אחרים. בנוסף ובמקביל לימי המושבים, בתאריך 12 יולי תיערך תערוכה מקצועית-Testing Expo, של חברות הכלים והשירותים המובילות בתחום הבדיקות בארץ.